[发明专利]微处理器可靠性评测方法及其系统有效
| 申请号： | 200910241575.1 | 申请日： | 2009-11-26 |
| 公开（公告）号： | CN101719087A | 公开（公告）日： | 2010-06-02 |
| 发明（设计）人： | 潘送军;胡瑜;李晓维 | 申请（专利权）人： | 中国科学院计算技术研究所 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人： | 祁建国;梁挥 |
| 地址： | 100080 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及微处理器可靠性评测方法及其系统，方法包括：步骤1，确定待分析的间歇故障所属的故障类型，确定故障模型的关键参数；步骤2，根据确定的故障类型，从微处理器中选择硬件结构；步骤3，在微处理器中运行测试程序，根据关键参数运用故障模型进行故障模拟，确定测试程序执行过程中硬件结构包含的体系结构正确执行位或关键时间区域；步骤4，根据确定的体系结构正确执行位或关键时间区域，判断发生在硬件结构中的间歇故障是否影响程序执行结果；步骤5，根据判断结果计算测试程序执行过程中，待分析的硬件结构中的间歇故障脆弱因子，对微处理器进行可靠性评测。本发明能够评测微处理器中不同结构发生的间歇故障引起程序执行出错的概率。 | ||
| 搜索关键词： | 微处理器 可靠性 评测 方法 及其 系统 | ||
【主权项】：
一种微处理器可靠性评测方法，其特征在于，包括：步骤1，对间歇故障进行分类，确定待分析的间歇故障所属的故障类型，并对所述故障类型建立相应的故障模型，确定所述故障模型的关键参数；步骤2，根据确定的故障类型，从所述微处理器中选择硬件结构，被选择的硬件结构为待分析的硬件结构；步骤3，在微处理器中运行测试程序，根据所述关键参数，运用所述故障模型进行故障模拟，确定测试程序执行过程中待分析的硬件结构包含的体系结构正确执行位或关键时间区域；步骤4，根据确定的体系结构正确执行位或关键时间区域，判断发生在所述硬件结构中的间歇故障是否影响程序执行结果；步骤5，根据判断结果计算测试程序执行过程中，待分析的硬件结构中的间歇故障脆弱因子，对微处理器进行可靠性评测。
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