[发明专利]一种模块调试测试方法、系统及测试逻辑装置无效
| 申请号： | 200910243328.5 | 申请日： | 2009-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN101710169A | 公开（公告）日： | 2010-05-19 |
| 发明（设计）人： | 万红星 | 申请（专利权）人： | 北京中星微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/3177 | 分类号： | G01R31/3177 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 许静 |
| 地址： | 100083 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种模块调试测试方法、系统及测试逻辑装置。所述模块调试测试系统用于应用专用逻辑模块的测试，包括：测试逻辑模块，所述测试逻辑模块的一端连接所述应用专用逻辑模块，所述测试逻辑模块的另一端连接系统总线；所述测试逻辑模块包括延迟逻辑子模块，用于接收所述应用专用逻辑模块向所述系统总线发送的申请，并在延迟一定的时间计数后将所述申请发送至所述系统总线。本发明技术方案通过测试逻辑模块模拟系统总线利用率紧张的状况，从而实现能够检测出应用专用逻辑模块内部的流水时序等问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 模块 调试 测试 方法 系统 逻辑 装置 | ||
【主权项】：
一种模块调试测试系统，用于应用专用逻辑模块的测试，其特征在于，包括：测试逻辑模块，所述测试逻辑模块的一端连接所述应用专用逻辑模块，所述测试逻辑模块的另一端连接系统总线；所述测试逻辑模块包括延迟逻辑子模块，用于接收所述应用专用逻辑模块向所述系统总线发送的申请，并在延迟一定的时间计数后将所述申请发送至所述系统总线。
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