[发明专利]一种CMOS集成电路抗辐照加固电路有效

专利信息
申请号: 200910244519.3 申请日: 2009-12-30
公开(公告)号: CN102118152A 公开(公告)日: 2011-07-06
发明(设计)人: 毕津顺;海潮和;韩郑生;罗家俊 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: H03K19/007 分类号: H03K19/007;H01L27/092
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 周国城
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种CMOS集成电路抗辐照加固电路,该电路包括一个容易发生单粒子翻转的逻辑门电路(100)和一个冗余逻辑门电路(101),逻辑门电路(100)和冗余逻辑门电路(101)共用一个输入端,逻辑门电路(100)的输出端与冗余逻辑门电路(101)的输出端之间连接有两个并联连接的场效应晶体管,一个为n型沟道场效应晶体管(102),一个为p型沟道场效应晶体管(103)。利用本发明,对CMOS集成电路中敏感的逻辑门电路进行抗辐照加固,在集成电路面积和速度之间折中,明显提高了CMOS集成电路抗单粒子翻转的水平。
搜索关键词: 一种 cmos 集成电路 辐照 加固 电路
【主权项】:
一种CMOS集成电路抗辐照加固电路,其特征在于,该电路包括一个容易发生单粒子翻转的逻辑门电路(100)和一个冗余逻辑门电路(101),逻辑门电路(100)和冗余逻辑门电路(101)共用一个输入端,逻辑门电路(100)的输出端与冗余逻辑门电路(101)的输出端之间连接有两个并联连接的场效应晶体管,一个为n型沟道场效应晶体管(102),一个为p型沟道场效应晶体管(103)。
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