[发明专利]一种采用氦氢气体混合共稀释法制备微晶硅锗薄膜的方法无效

专利信息
申请号: 200910244848.8 申请日: 2009-12-17
公开(公告)号: CN101736321A 公开(公告)日: 2010-06-16
发明(设计)人: 张建军;张丽平;倪牮;曹宇;王先宝;赵颖;耿新华 申请(专利权)人: 南开大学
主分类号: C23C16/455 分类号: C23C16/455;C23C16/42;H01L31/18
代理公司: 天津佳盟知识产权代理有限公司 12002 代理人: 侯力
地址: 300071*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 一种采用氦氢气体混合共稀释法制备微晶硅锗薄膜的方法,包括下述步骤:1)将带有T的玻璃衬底G放在真空室内,本底真空高于2×10-4Pa;2)在向反应室通入反应气体硅烷和锗烷、稀释气体氦气和氢气的条件下,采用等离子体增强化学气相沉积法沉积微晶硅锗薄膜,气体的流量为:硅烷(5-10)sccm、锗烷(0.5-1.0)sccm、氢气(100-200)sccm、氦气与氢气的流量比为1∶1~5。本发明的有益效果是:该法制备的微晶硅锗薄膜具有窄带隙、低缺陷和高光敏性等优点,且制备工艺简单、容易操作、制造成本低;采用该材料的硅基薄膜电池可提高光谱响应范围、稳定性和转化效率。
搜索关键词: 一种 采用 氢气 混合 稀释 法制 备微晶硅锗 薄膜 方法
【主权项】:
一种采用氦氢气体混合共稀释法制备微晶硅锗薄膜的方法,其特征在于包括下述步骤:1)将带有T的玻璃衬底G放在真空室内,本底真空高于2×10-4Pa;2)在向反应室通入反应气体硅烷和锗烷、稀释气体氦气和氢气的条件下,采用等离子体增强化学气相沉积法沉积微晶硅锗薄膜。
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