[发明专利]双基准物的差压检漏方法有效
| 申请号： | 200910249606.8 | 申请日： | 2009-12-08 |
| 公开（公告）号： | CN102087159A | 公开（公告）日： | 2011-06-08 |
| 发明（设计）人： | 孟冬辉;喻新发;郭欣;闫荣鑫;师立侠 | 申请（专利权）人： | 北京卫星环境工程研究所 |
| 主分类号： | G01M3/26 | 分类号： | G01M3/26 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100094 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种双基准物的差压检漏系统，包括被测物，两个完全相同的小基准物、差压传感器、绝压计以及多个控制阀门V1-V5，基准物I通过控制阀门V1与绝压计和被测物相连，基准物II通过控制阀门V2与被测物相连，它们分别记录被测物在测试阶段初始时刻和终止时刻的压力状态，通过阀门V3-V5来控制基准物I、基准物II和被测物之间的充放气、平衡和测试过程；通过差压传感器来测量两个基准物之间的差压，从而确定出漏率。本发明也公开了相应的差压检漏方法。与现有技术相比，本发明在差压检漏过程中不需要大型基准物，只用两个很小的基准物就能实现精确的差压检漏。而且本发明不需要测量被测舱体和基准物内温度。 | ||
| 搜索关键词： | 基准 检漏 方法 | ||
【主权项】：
双基准物的差压检漏系统，包括被测物，两个大小、材料和形状都完全相同的小基准物即基准物I和基准物II、差压传感器、绝压计以及多个控制阀门V1‑V5，基准物I通过控制阀门V1与绝压计和被测物相连，基准物II通过控制阀门V2与被测物相连，它们分别记录被测物在测试阶段初始时刻和终止时刻的压力状态，通过阀门V3‑V5来控制基准物I、基准物II和被测物之间的充放气、平衡和测试过程；通过差压传感器来测量两个基准物之间的差压，从而确定出漏率。
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