[发明专利]用于确定失真校正数据的方法和装置有效

专利信息
申请号: 200910254204.7 申请日: 2009-12-10
公开(公告)号: CN101900798A 公开(公告)日: 2010-12-01
发明(设计)人: 拉尔夫·金林根;萨布里纳·克雷赫;安德烈亚斯·韦德曼 申请(专利权)人: 西门子公司
主分类号: G01R33/565 分类号: G01R33/565;G01R33/389;G01R33/385;A61B5/055
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 时永红
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明涉及一种用于确定对用磁共振系统采集的磁共振图像进行失真校正的失真校正数据的方法,至少包括方法步骤:基于梯度线圈的导线几何形状计算表示磁共振系统梯度线圈的磁场的开始球函数(SKF);使用定义的测量对象(O)来确定表示由梯度线圈产生的磁场的三维参数图(PKx,PKy,PKz),其中,对于涉及的梯度线圈设置定义的梯度强度;基于所述参数图并且基于利用断开的梯度线圈确定的参考参数图(PK0)产生偏差参数图(APK);在使用开始球函数的条件下通过将表示梯度线圈磁场的球函数拟合到偏差参数图上来确定梯度磁场的球函数系数(A(1,m),B(1,m));基于该经拟合的球函数的球函数系数确定所述失真校正数据。
搜索关键词: 用于 确定 失真 校正 数据 方法 装置
【主权项】:
一种用于确定对用磁共振系统(1)采集的磁共振图像(BD)进行失真校正的失真校正数据(VKD)的方法,至少包括以下方法步骤:基于梯度线圈的导线几何形状计算表示磁共振系统(1)的梯度线圈的磁场的开始球函数(SKF);在使用定义的测量对象(O)的条件下确定表示由梯度线圈产生的磁场的三维参数图(PKx,PKy,PKz),其中,对于涉及的梯度线圈设置定义的梯度强度;基于所述参数图(PKx,PKy,PKz)并且基于利用断开的梯度线圈确定的参考参数图(PK0)产生偏差参数图(APK);在使用所述开始球函数(SKF)的条件下通过将表示梯度线圈的磁场的球函数拟合到所述偏差参数图(APK)来确定梯度磁场的球函数系数(A(1,m),B(1,m));基于该经拟合的球函数的球函数系数(A(1,m),B(1,m))确定所述失真校正数据(VKD)。
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