[发明专利]一种测量恒压式正压漏孔校准装置变容室容积的方法有效
申请号: | 200910259325.0 | 申请日: | 2009-12-17 |
公开(公告)号: | CN101718574A | 公开(公告)日: | 2010-06-02 |
发明(设计)人: | 冯焱;李得天;赵澜;张涤新;盛学民;李正海 | 申请(专利权)人: | 中国航天科技集团公司第五研究院第五一○研究所 |
主分类号: | G01F25/00 | 分类号: | G01F25/00 |
代理公司: | 北京理工大学专利中心 11120 | 代理人: | 张利萍 |
地址: | 730000*** | 国省代码: | 甘肃;62 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明的一种测量恒压式正压漏孔校准装置变容室容积的方法,特别涉及一种内置法测量恒压式正压漏孔校准装置变容室容积的方法,属于真空计量技术领域。将一个外接容器与变容室相连,外接容器与变容室抽真空本底,向变容室中通入气体,而后膨胀到外接容器并平衡,向变容室中通入气体,而后膨胀到外接容器并平衡,完成对内置法测量恒压式正压漏孔校准装置变容室容积的方法。本发明方法采用等温膨胀技术,在工作环境下,将变容室容积的测量标准转化为可以精确测量的圆柱体容积,提高测量精度;测量过程中避免了使用水介质传递测量。 | ||
搜索关键词: | 一种 测量 恒压式 正压 漏孔 校准 装置 变容室 容积 方法 | ||
【主权项】:
一种测量恒压式正压漏孔校准装置变容室容积的方法,其特征在于:1)将外接容器与变容室通过真空阀门相连,另一段密封,外接容器的容积v1为变容室容积v的1.5倍;2)对外接容器与变容室抽真空至本底,真空度小于0.01Pa,向变容室中通入压力为p1的气体,p1的值通过压力计测量;而后气体膨胀到外接容器,平衡后压力为p2,p2的值通过压力计测量;3)将外接容器的另一端打开,装入已知容积为v2的圆柱体,然后密封并对变容室及外接容器抽真空至本底,真空度小于0.01Pa;4)向变容室中通入压力为p3的气体,p3的值通过压力计测量;而后气体膨胀到外接容器,平衡后压力为p4,p4的值通过压力计测量;则变容室容积为 V = p 2 p 4 V 2 ( p 1 p 4 - p 3 p 3 ) .
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国航天科技集团公司第五研究院第五一○研究所,未经中国航天科技集团公司第五研究院第五一○研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200910259325.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:除湿空调系统
- 下一篇:体腔用超声波探头及超声波诊断装置