[发明专利]一种PN结嵌入玻璃钝化器件的结构设计有效
申请号: | 200910259978.9 | 申请日: | 2009-12-24 |
公开(公告)号: | CN102110603A | 公开(公告)日: | 2011-06-29 |
发明(设计)人: | 淮永进 | 申请(专利权)人: | 淮永进;北京燕东微电子有限公司 |
主分类号: | H01L21/329 | 分类号: | H01L21/329;H01L21/316;H01L21/78 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100015 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 玻璃钝化二极管,单向或双向,常用深结扩散工艺,N型单晶片或P型单晶片,在其上通过掺硼或掺磷,进行高温扩散,形成较深PN结。然后进行传统的玻璃钝化。但由于产品高压或者功率的要求,PN结很深,从而台面腐蚀深度很深,特别是对硅片厚度要求较薄的产品,碎片率难以控制,而且由于台面的深度,大大牺牲了芯片的有效面积,生产成本加大。本发明采用N型或P型单晶片,通过两次扩散,形成非常好的均匀PN结,而且台面深度浅,芯片有效利用率高,生产成本低,并有很好抗电流能力。 | ||
搜索关键词: | 一种 pn 嵌入 玻璃 钝化 器件 结构设计 | ||
【主权项】:
一种具有PN结嵌入玻璃钝化半导体器件的结构设计和制造方法,如图2在硅衬底1上液态源或乳胶源或纸源进行大面积与衬底异型的杂质扩散。在一定温度下形成5‑30um的结深2,然后通过光刻胶或者氧化层掩蔽,用硅腐蚀液腐蚀15‑35um的台面3,再通过1150℃‑1300℃高温扩散,根据器件要求结深20‑80um不等4。最后进行台面清洗,玻璃钝化以及镀金属层,划片后即形成独立的器件。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于淮永进;北京燕东微电子有限公司,未经淮永进;北京燕东微电子有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200910259978.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:环绕地球数十圈的导弹专用电池
- 下一篇:铝电解电容器引线拉伸机塔轮
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造