[发明专利]测试模式信号发生装置有效
| 申请号： | 200910260969.1 | 申请日： | 2009-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN101988949A | 公开（公告）日： | 2011-03-23 |
| 发明（设计）人： | 尹泰植 | 申请（专利权）人： | 海力士半导体有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人： | 郭放;黄启行 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 公开了测试模式信号发生装置的各个实施例。该装置包括第一测试模式信号发生单元和第二测试模式信号发生单元。第一测试模式信号发生单元被配置成当第一模式转换信号被使能时，接收测试地址信号以生成第一测试模式信号。第一测试模式信号发生单元还被配置成当测试地址信号对应于第一预定组合时，使能第二模式转换信号。第二测试模式信号发生单元被配置成当第二模式转换信号被使能时，接收测试地址信号以生成第二测试模式信号。第二测试模式信号发生单元还被配置成当测试地址信号对应于第二预定组合时，使能第一模式转换信号。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 模式 信号 发生 装置 | ||
【主权项】：
一种测试模式信号发生装置，其包括：第一测试模式信号发生单元，被配置成当第一模式转换信号被使能时，接收测试地址信号来生成第一测试模式信号，所述第一测试模式信号发生单元进一步被配置成当所述测试地址信号对应于第一预定组合时，使能第二模式转换信号；以及第二测试模式信号发生单元，被配置成当第二模式转换信号被使能时，接收所述测试地址信号来生成第二测试模式信号，所述第二测试模式信号发生单元进一步被配置成当所述测试地址信号对应于第二预定组合时，使能所述第一模式转换信号。
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