[发明专利]相位调制凹槽阵列微型光谱仪无效

专利信息
申请号: 200910264252.4 申请日: 2009-12-29
公开(公告)号: CN101819063A 公开(公告)日: 2010-09-01
发明(设计)人: 何浩培;杨涛;李千秋;黄维;蔡潮盛 申请(专利权)人: 南京邮电大学;香港中文大学
主分类号: G01J3/28 分类号: G01J3/28;G01J3/45
代理公司: 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 代理人: 叶连生
地址: 210003 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 相位调制凹槽阵列微型光谱仪包括一个构建在基底(3)中的微型干涉仪二维阵列,每个微型干涉仪设有第一凹槽(1),在不同的微型干涉仪中的第一凹槽(1)在基底(3)里的深度不同,在基底(3)的下表面设有CCD(4),在基底(3)和CCD(4)中间有一层遮挡物(5);遮挡物(5)把大部分CCD面元遮住,但在每一个微型干涉仪下方的遮挡物(5)上留有透光孔,透光孔的孔径小于CCD(4)所能探测到的入射光波的最小波长,透光孔位于第一凹槽下方的任意位置;在微型干涉仪二维阵列的上方有两个共焦的透镜(6),在两个共焦的透镜(6)之间的焦点处的遮光板中有一个小孔(7)。解决了体积较大、对振动敏感、制作成本较高、分辨率较低、波长测量范围较窄等技术问题。
搜索关键词: 相位 调制 凹槽 阵列 微型 光谱仪
【主权项】:
一种相位调制凹槽阵列微型光谱仪,其特征在于该光谱仪包括一个构建在基底(3)中的微型干涉仪二维阵列,每个微型干涉仪设有第一凹槽(1),在不同的微型干涉仪中的第一凹槽(1)在基底(3)里的深度不同,在基底(3)的下表面设有CCD(4),在基底(3)和CCD(4)中间有一层遮挡物(5);遮挡物(5)把大部分CCD面元遮住,但在每一个微型干涉仪下方的遮挡物(5)上留有透光孔,透光孔的孔径小于CCD(4)所能探测到的入射光波的最小波长,透光孔位于第一凹槽下方的任意位置;为了提高整个器件的灵敏度,透光孔位于第一凹槽(1)边缘的正下方,如果凹槽宽度在两个入射光最大波长以内,透光孔位于第一凹槽的中央;第一凹槽的宽度与入射光波波长处于同一量级,第一凹槽的最大深度也为入射光波波长量级,在微型干涉仪二维阵列的上方有两个共焦的透镜(6),在两个共焦的透镜(6)之间的焦点处的遮光板中有一个小孔(7)。
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