[发明专利]相位调制凹槽阵列微型光谱仪无效
申请号: | 200910264252.4 | 申请日: | 2009-12-29 |
公开(公告)号: | CN101819063A | 公开(公告)日: | 2010-09-01 |
发明(设计)人: | 何浩培;杨涛;李千秋;黄维;蔡潮盛 | 申请(专利权)人: | 南京邮电大学;香港中文大学 |
主分类号: | G01J3/28 | 分类号: | G01J3/28;G01J3/45 |
代理公司: | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人: | 叶连生 |
地址: | 210003 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 相位调制凹槽阵列微型光谱仪包括一个构建在基底(3)中的微型干涉仪二维阵列,每个微型干涉仪设有第一凹槽(1),在不同的微型干涉仪中的第一凹槽(1)在基底(3)里的深度不同,在基底(3)的下表面设有CCD(4),在基底(3)和CCD(4)中间有一层遮挡物(5);遮挡物(5)把大部分CCD面元遮住,但在每一个微型干涉仪下方的遮挡物(5)上留有透光孔,透光孔的孔径小于CCD(4)所能探测到的入射光波的最小波长,透光孔位于第一凹槽下方的任意位置;在微型干涉仪二维阵列的上方有两个共焦的透镜(6),在两个共焦的透镜(6)之间的焦点处的遮光板中有一个小孔(7)。解决了体积较大、对振动敏感、制作成本较高、分辨率较低、波长测量范围较窄等技术问题。 | ||
搜索关键词: | 相位 调制 凹槽 阵列 微型 光谱仪 | ||
【主权项】:
一种相位调制凹槽阵列微型光谱仪,其特征在于该光谱仪包括一个构建在基底(3)中的微型干涉仪二维阵列,每个微型干涉仪设有第一凹槽(1),在不同的微型干涉仪中的第一凹槽(1)在基底(3)里的深度不同,在基底(3)的下表面设有CCD(4),在基底(3)和CCD(4)中间有一层遮挡物(5);遮挡物(5)把大部分CCD面元遮住,但在每一个微型干涉仪下方的遮挡物(5)上留有透光孔,透光孔的孔径小于CCD(4)所能探测到的入射光波的最小波长,透光孔位于第一凹槽下方的任意位置;为了提高整个器件的灵敏度,透光孔位于第一凹槽(1)边缘的正下方,如果凹槽宽度在两个入射光最大波长以内,透光孔位于第一凹槽的中央;第一凹槽的宽度与入射光波波长处于同一量级,第一凹槽的最大深度也为入射光波波长量级,在微型干涉仪二维阵列的上方有两个共焦的透镜(6),在两个共焦的透镜(6)之间的焦点处的遮光板中有一个小孔(7)。
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