[发明专利]一种EMI滤波器共模/差模滤波特性及其耦合度特性测试方法

摘要

本发明公开了一种EMI滤波器共模/差模滤波特性及其耦合度特性测试方法，测量步骤是：A、使用矢量网络分析仪测量选定测量频率范围内EMI滤波器的S参数，同时记录幅频特性和相频特性；B、将测量结果以复数形式代入计算公式，计算EMI滤波器的特性参数，即共模滤波特性、差模滤波特性、共模耦合度和差模耦合度的幅频特性和相频特性。本发明方法可以直接测量EMI滤波器的滤波特性和耦合度，即可以测量共模滤波特性、差模滤波特性、共模耦合度和差模耦合度的幅频特性和相频特性，同时简化了测量步骤，缩短了测量时间，节省了数据存储的空间，提高了数据处理的速度，效率提高。

主权项

1.一种EMI滤波器共模/差模滤波特性及其耦合度特性测试方法，其测量步骤如下：A、使用矢量网络分析仪测量选定测量频率范围内EMI滤波器的S参数和同时记录幅频特性和相频特性；B、用下式计算EMI滤波器的共模滤波特性、差模滤波特性、共模耦合度和差模耦合度的幅频特性和相频特性：EMI滤波器的共模滤波特性的幅频特性和相频特性F·CM=V·OCMV·ICM=12V·3+V·4V·ICM]]>=12Z·0(b·3+b·4)V·ICM]]>=12(a·1(S·31+S·41)a·1+b·1+a·2(S·32+S·42)a·2+b·2)]]>=12(S·31+S·411+S·11+S·32+S·421+S·22);]]>EMI滤波器的差模滤波特性的幅频特性和相频特性F·DM=V·ODMV·IDM=12V·3-V·4V·IDM]]>=Z·0(b·3-b·4)V·IDM]]>=12(a·1(S·31-S·41)a·1+b·1-a·2(S·32-S·42)a·2+b·2)]]>=12(S·31-S·411+S·11-S·32-S·421+S·22);]]>EMI滤波器的共模耦合度的幅频特性和相频特性C·CM=V·ODMV·ICM=V·3-V·4V·ICM]]>=Z·0(b·3-b·4)V·ICM]]>=a·1(S·31-S·41)a·1+b·1+a·2(S·32-S·42)a·2+b·2]]>=S·31-S·411+S·11+S·32-S·421+S·22;]]>EMI滤波器的差模耦合度的幅频特性和相频特性C·DM=V·OCMC·IDM=12V·3+V·4V·IDM]]>=12Z·0(b·3+b·4)V·IDM]]>=14(a·1(S·31+S·41)a·1+b·1-a·2(S·32+S·42)a·2+b·2)]]>=14(S·31+S·411+S·11-S·32+S·421+S·22).]]>