[发明专利]电性连接瑕疵侦测装置

摘要

本发明是有关于一种电性连接瑕疵侦测装置，用以侦测待测元件的待测接脚与电路板信号线间的电性连接是否正常，电性连接瑕疵侦测装置包括：信号供应器、侦测模块以及电极板。信号供应器藉由信号线提供测试信号至待测接脚。电极板电性连接于侦测模块，包括：侦测面以及至少一排贯孔。侦测面接触待测元件相对待测接脚的表面，在信号供应器提供测试信号至待测接脚且待测接脚与信号线连接正常时，使侦测模块侦测到的感应电容大于一临界值。贯孔沿电极板四边设置，贯穿电极板，与接地电位相连接，在信号供应器与电极板位于电路板同一侧时屏蔽信号供应器与电极板间的电容效应。

主权项

一种电性连接瑕疵侦测装置，其特征在于其用以侦测一待测元件的一待测接脚与一电路板的一信号线间的电性连接是否正常，该电性连接瑕疵侦测装置包含：一信号供应器，藉由该信号线提供一测试信号至该待测接脚；一侦测模块；以及一电极板，电性连接于该侦测模块，包含：一侦测面，用以接触该待测元件相对该待测接脚的一表面，而与该待测接脚间隔一距离，以在该信号供应器提供该测试信号至该待测接脚，且该待测接脚与该信号线连接正常时，使该侦测模块侦测到一感应电容大于一临界值；及至少一排贯孔，是沿该电极板的四边设置，以贯穿该电极板，其中该贯孔是与一接地电位相连接，以在该信号供应器与该电极板位于该电路板的同一侧时屏蔽该信号供应器与该电极板间的一电容效应。