[发明专利]一种低射频阻抗测量装置有效
| 申请号： | 200910308560.2 | 申请日： | 2009-10-21 |
| 公开（公告）号： | CN101782609A | 公开（公告）日： | 2010-07-21 |
| 发明（设计）人： | 钟名庆 | 申请（专利权）人： | 芯通科技（成都）有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/02 | 分类号： | G01R27/02 |
| 代理公司： | 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 | 代理人： | 熊晓果;吴彦峰 |
| 地址： | 610041 四川省成都市*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于辅助射频功率放大器开发的低射频阻抗测量装置，包括50Ω同轴匹配负载(1)、同轴一微带过渡连接器(2)、附加两节阻抗变换微带线的被测低射频阻抗电路(3)、微带OSL校准电路板(4)，两节阻抗变换微带线(b、c)把低射频阻抗微带电路(a)的阻抗水平提高到矢量网络分析仪能够精确测量的水平，从而消除了直接测量低射频阻抗误差大的问题；微带OSL校准件消除了同轴测试口与微带电路过渡部分引入的测试误差，使测量精度进一步提高。本发明具有结构简单、测量精度好、成本低廉等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 射频 阻抗 测量 装置 | ||
【主权项】：
一种低射频阻抗测量装置，其特征在于：在被测低射频阻抗电路与矢量网络分析仪的同轴测试口之间依次连接第一阻抗变换微带线、第二阻抗变换微带线以及同轴过渡微带线，在第二阻抗变换微带线端面上矢量网络分析仪测得的阻抗(ZLM)与被测低射频阻抗电路的阻抗之间存在关系式： Z LM = ( Z 02 Z 01 ) 2 Z L , 其中，ZL为被测低射频阻抗电路的阻抗，Z01为第一阻抗变换微带线的特性阻抗，Z02为第二阻抗变换微带线的特性阻抗，Z02：Z01的比值大于1。
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