[发明专利]存储设备旋转振动测试系统及方法无效
| 申请号： | 200910311036.0 | 申请日： | 2009-12-08 |
| 公开（公告）号： | CN102087855A | 公开（公告）日： | 2011-06-08 |
| 发明（设计）人： | 林圣涵 | 申请（专利权）人： | 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
| 主分类号： | G11B5/455 | 分类号： | G11B5/455;G11B20/18 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518109 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种存储设备旋转振动测试系统，所述存储设备包括至少一个存储器以及风扇，该系统包括：设置模块，用于设置待测的存储器、待测的风扇转速、待测的工作负载以及测试时间；选择模块，用于从待测的存储器中逐一选择存储器；风扇控制模块，用于从待测的风扇转速中逐一选择风扇转速，并且控制风扇以该选择的转速运转；负载控制模块，用于从待测的工作负载中逐一选择工作负载，并且对存储设备产生该选择的工作负载；测试模块，用于根据设置的测试时间测试选择的存储器的读写性能；及存储模块，用于存储选择的存储器的读写性能的测试数据。本发明还提供一种存储设备旋转振动测试方法。本发明能够快速有效地对存储设备实施旋转振动测试。 | ||
| 搜索关键词： | 存储 设备 旋转 振动 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种存储设备旋转振动测试系统，运行于主机中，所述存储设备包括至少一个存储器以及至少一个风扇，其特征在于，该系统包括：设置模块，用于设置存储设备的测试参数，所述测试参数包括待测的存储器、待测的风扇转速、待测的工作负载以及测试时间；选择模块，用于从待测的存储器中逐一选择存储器；风扇控制模块，用于从待测的风扇转速中逐一选择风扇转速，并且控制风扇以该选择的转速运转；负载控制模块，用于从待测的工作负载中逐一选择工作负载，并且对存储设备产生该选择的工作负载；测试模块，用于根据设置的测试时间，在选择的风扇转速以及工作负载下测试选择的存储器的读写性能；及存储模块，用于存储选择的存储器的读写性能的测试数据。
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