[发明专利]均匀度测量系统与方法无效
| 申请号： | 200910312045.1 | 申请日： | 2009-12-23 |
| 公开（公告）号： | CN102109413A | 公开（公告）日： | 2011-06-29 |
| 发明（设计）人： | 叶肇懿;黄仲志;颜荣毅 | 申请（专利权）人： | 富士迈半导体精密工业（上海）有限公司;沛鑫能源科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 201600 上海市松江区*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种均匀度测量系统，所述测量系统包括一聚光元件、一用于把持所述聚光元件的把持部、一用于获取光斑的影像处理装置、一承放所述影像处理装置的承载台以及一处理器，所述承载台与所述把持部相对并可相对于把持部移动，以调整光线通过所述聚光元件在所述影像处理装置的光斑大小，所述处理器与所述影像处理装置连接，以对从所述影像处理装置获取的影像数据进行计算得出所述聚光元件的均匀度。上述均匀度测量系统与方法，通过影像处理装置获取影像信息，再通过处理器对获取的影像信息进行计算，可以便捷地得出聚光元件的均匀度。 | ||
| 搜索关键词： | 均匀 测量 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种均匀度测量系统，其特征在于：所述测量系统包括一聚光元件、一用于把持所述聚光元件的把持部、一用于获取光斑的影像处理装置、一承放所述影像处理装置的承载台以及一处理器，所述承载台与所述把持部相对并可相对于把持部移动，以调整光线通过所述聚光元件在所述影像处理装置的光斑大小，所述处理器与所述影像处理装置连接，以对从所述影像处理装置获取的影像数据进行计算得出所述聚光元件的均匀度。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于富士迈半导体精密工业（上海）有限公司;沛鑫能源科技股份有限公司，未经富士迈半导体精密工业（上海）有限公司;沛鑫能源科技股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200910312045.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种两通阀体改良结构
- 下一篇：带反光杯的片式LED基板
