[实用新型]一种内存转接测试座无效
| 申请号： | 200920006783.9 | 申请日： | 2009-03-19 |
| 公开（公告）号： | CN201444524U | 公开（公告）日： | 2010-04-28 |
| 发明（设计）人： | 张光荣 | 申请（专利权）人： | 张光荣 |
| 主分类号： | H01R31/06 | 分类号： | H01R31/06;H01R13/66;H01R13/68;G01R1/04 |
| 代理公司： | 北京邦信阳专利商标代理有限公司 11012 | 代理人： | 高之波 |
| 地址： | 330800 江西省高*** | 国省代码： | 江西;36 |
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| 摘要： | 本实用新型提供一种内存转接测试座，包括接触电路PCB板和内存槽连接器，所述内存槽连接器包括弹片端子和塑胶槽，所述接触电路PCB板上设有转接金手指及与所述转接金手指一一对应的焊盘，所述接触电路PCB板的焊盘与所述弹片端子一一对应电连接，所述塑胶槽的两端设有与所测试的内存条的尺寸匹配的导引限位槽，完全的限制了内存条插入内存条保护测试座时发生或左或右的偏位移动，有效减少了对塑胶槽中间设有的防呆柱的压磨损伤，提高了内存条保护测试座的使用寿命，杜绝了错位误测或短路烧内存条的事故发生，降低了生产成本，提高了测试正确性和可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 内存 转接 测试 | ||
【主权项】：
一种内存转接测试座，包括接触电路PCB板和内存槽连接器，所述内存槽连接器包括弹片端子和塑胶槽，所述接触电路PCB板上设有转接金手指、线路及通过线路与所述转接金手指一一对应的焊盘，所述接触电路PCB板的焊盘与所述弹片端子一一对应电连接，其特征在于，所述塑胶槽的两端设有与所测试的内存条的尺寸匹配的导引限位槽。
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