[实用新型]低应力芯片凸点封装结构有效
申请号: | 200920045055.9 | 申请日: | 2009-05-26 |
公开(公告)号: | CN201421840Y | 公开(公告)日: | 2010-03-10 |
发明(设计)人: | 曹凯;张黎;赖志明;陈锦辉;陈栋 | 申请(专利权)人: | 江阴长电先进封装有限公司 |
主分类号: | H01L23/485 | 分类号: | H01L23/485;H01L23/482 |
代理公司: | 江阴市同盛专利事务所 | 代理人: | 唐纫兰 |
地址: | 214434江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本实用新型涉及一种低应力芯片凸点封装结构,属于芯片封装技术领域。所述结构包括芯片本体(1)、芯片电极(2)、芯片表面钝化层(3)、凸点下应力缓冲层(4)、接触电极(5)和应力缓冲层上焊料凸点(6),其特征在于:所述凸点下应力缓冲层(4)相互分隔开来不连续。本实用新型的有益效果是:本实用新型通过将凸点下应力缓冲层相互分隔开来,只有在凸点下有应力缓冲层,应力缓冲层不连续,可以降低整个芯片应力,分散芯片应力分布,提高了凸点结构的可靠性能,改善工艺中漏电流问题,提高了工艺加工的实用性,并且不同尺寸的芯片可以共用同一块掩膜板,节省成本。 | ||
搜索关键词: | 应力 芯片 封装 结构 | ||
【主权项】:
1、一种低应力芯片凸点封装结构,包括芯片本体(1)、芯片电极(2)、芯片表面钝化层(3)、凸点下应力缓冲层(4)、接触电极(5)和应力缓冲层上焊料凸点(6),其特征在于:所述凸点下应力缓冲层(4)相互分隔开来不连续。
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