[实用新型]数控机床两维移动轨迹动态测量仪有效

专利信息
申请号: 200920060624.7 申请日: 2009-07-16
公开(公告)号: CN201534293U 公开(公告)日: 2010-07-28
发明(设计)人: 邝锦祥 申请(专利权)人: 东莞盈拓科技实业有限公司
主分类号: B23Q17/00 分类号: B23Q17/00;G01B21/02;G01B21/04
代理公司: 北京中北知识产权代理有限公司 11253 代理人: 段秋玲
地址: 523470 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 一种数控机床两维移动轨迹动态测量仪,包括两轴数控云台和位移检测部分,位移检测部分主要由两个位移测量感应器组成,位移测量感应器以水平直角方式安装在两轴数控云台的移动平台上。本实用新型的数控机床两维移动轨迹动态测量仪,由于采用两轴数控云台和两个位移测量感应器的结构,可以对被测量机床进行任何轨迹的动态测量,所测数据更为全面,并且由于是直接对被测量机床进行测量,可以减少其它非机械精度的因素对测量结果的影响,同时,由于本实用新型属机械性测量仪,维修及校准的可操作性更强。
搜索关键词: 数控机床 移动 轨迹 动态 测量仪
【主权项】:
一种数控机床两维移动轨迹动态测量仪,其特征在于:其包括两轴数控云台和位移检测部分,其中所述的位移检测部分主要由两个位移测量感应器组成,位移测量感应器以水平直角方式安装在两轴数控云台的移动平台上。
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