[实用新型]在嵌入式闪存测试过程中产生和显示位图信息的装置无效
| 申请号： | 200920074754.6 | 申请日： | 2009-12-03 |
| 公开（公告）号： | CN201576463U | 公开（公告）日： | 2010-09-08 |
| 发明（设计）人： | 辛吉升;桑浚之 | 申请（专利权）人： | 上海华虹NEC电子有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人： | 孙大为 |
| 地址： | 201206 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种在嵌入式闪存测试过程中产生和显示位图信息的装置，包括：一个故障位图转换模块；所述故障位图转换模块一端连接故障信息采集模块；所述故障位图转换模块另一端连接一个故障位图显示模块；所述故障位图转换模块连接一个模式控制模块，并由一个模式控制模块控制。本实用新型产生的故障位图中包含的信息量大，可以更快捷地对存储器测试过程中产生的故障信息原因进行定位，预计可以比现有技术中使用的方法缩短一半的时间。 | ||
| 搜索关键词： | 嵌入式 闪存 测试 过程 产生 显示 位图 信息 装置 | ||
【主权项】：
一种在嵌入式闪存测试过程中产生和显示位图信息的装置，其特征在于，包括：一个故障位图转换模块；所述故障位图转换模块一端连接故障信息采集模块；所述故障位图转换模块另一端连接一个故障位图显示模块；所述故障位图转换模块连接一个模式控制模块，并由模式控制模块控制。
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