[实用新型]LD-TO CAN PIV快速测试装置有效
| 申请号： | 200920084637.8 | 申请日： | 2009-03-31 |
| 公开（公告）号： | CN201489084U | 公开（公告）日： | 2010-05-26 |
| 发明（设计）人： | 杨新民;徐伟;黄红玲 | 申请（专利权）人： | 武汉华工正源光子技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;H01S5/022 |
| 代理公司： | 武汉开元知识产权代理有限公司 42104 | 代理人： | 朱盛华 |
| 地址： | 430223 湖北省武汉市东湖高*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | LD-TO CAN PIV快速测试装置，涉及一种能快速筛选半导体激光器封帽前的不良品的装置。连接夹具的半导体激光器的电极引出接口的LD+、LD-分别接半导体激光器PIV测试仪的LD-Driver接口的正负端，电极引出接口的PD+、PD-分别接入半导体激光器PIV测试仪的电流测量接口，半导体激光器PIV测试仪的X输出接口接20M双踪示波器的X轴输入接口，半导体激光器PIV测试仪的Y输出接口到20M双踪示波器的Y轴输入接口。本实用新型利用半导体激光器PIV测试仪与20M双踪示波器监控半导体激光器的Im电流值，从20M双踪示波器上的线性判断半导体激光器各项参数是否合格，快速筛选半导体激光器封帽前的不良品，保证封帽时的半导体激光器大部分为良品，减少TO帽的浪费率，能节约成本、提高产品合格率。 | ||
| 搜索关键词： | ld to can piv 快速 测试 装置 | ||
【主权项】：
LD-TO CAN PIV快速测试装置，其特征在于连接夹具的DB9接口的LD+、LD-分别接半导体激光器PIV测试仪的LD-Driver接口的正负端，DB9接口的PD+、PD-分别接入半导体激光器PIV测试仪的电流测量接口，半导体激光器PIV测试仪的X输出接口接20M双踪示波器的X轴输入接口，半导体激光器PIV测试仪的Y输出接口到接20M双踪示波器的Y轴输入接口。
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