[实用新型]新型集成电路芯片测试机无效
| 申请号： | 200920097667.2 | 申请日： | 2009-07-08 |
| 公开（公告）号： | CN201434900Y | 公开（公告）日： | 2010-03-31 |
| 发明（设计）人： | 刘华;赵春莲;姚琳;张超;华锡培 | 申请（专利权）人： | 天津渤海易安泰电子半导体测试有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 天津盛理知识产权代理有限公司 | 代理人： | 王来佳 |
| 地址： | 300384天津市华苑产*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种新型集成电路芯片测试机，包括机壳及其内部的测试机主板、交流信号卡组和直流信号卡组，交流信号卡组和直流信号卡组相互连接并分别安装在测试机主板上，该测试机主板分别与PC控制机、被测芯片载板相连接，其主要技术特点是：在测试机主板上还安装有数模芯片测试卡和模数芯片测试卡。本实用新型设计合理，实现了对不同类型集成电路芯片的测试功能，降低了集成电路生产厂家的设备投入，并节约了设备的运行维护成本，具有测试范围广、性能稳定、测试速度快、效率高、使用灵活方便等特点。 | ||
| 搜索关键词： | 新型 集成电路 芯片 测试 | ||
【主权项】：
1、一种新型集成电路芯片测试机，包括机壳及其内部的测试机主板、交流信号卡组和直流信号卡组，交流信号卡组和直流信号卡组相互连接并分别安装在测试机主板上，该测试机主板分别与PC控制机、被测芯片载板相连接，其特征在于：在测试机主板上还安装有数模芯片测试卡和模数芯片测试卡。
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