[实用新型]晶片测试台无效
| 申请号： | 200920104870.8 | 申请日： | 2009-01-09 |
| 公开（公告）号： | CN201387464Y | 公开（公告）日： | 2010-01-20 |
| 发明（设计）人： | 胡德良;沈彪;张正栋;陈浩 | 申请（专利权）人： | 江阴市爱多光伏科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 | 代理人： | 张春和 |
| 地址： | 214400江苏省江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型是一种晶片测试台，包括：一测试电路板、一定位体及测试台座，在测试台制作完成后，可将测试台安装在测试电路板上，此时测试电路板上具有一测试区，该测试区是有数个接触体所构成，并在测试区内设置有一定位体，在该定位梯上设有数个对应接触体的通孔，安装在测试台中的接触体对应于定位体的通孔连接时，该测试台上的接触体即可与测试电路板上的接触体接触，及形成对晶片进行测试的测试台结构。 | ||
| 搜索关键词： | 晶片 测试 | ||
【主权项】：
1、一种晶片测试台，其特征在于，包括：一测试台座，所述测试台座由第一、二、三测试板所构成，在每块测试板上设置有呈矩阵状态排列的通孔，所述第一、二测试板上的通孔内径大于第三测试板通孔的内径，所述第一、二、三测试板上的通孔相互对其形成一组接孔；一导通体，配置在上述的组接孔中，在所述导筒体上具有一第一杆部，所述第一杆部一端连接有一圆径小于第一杆部的第二杆部，在所述第二杆部一端设有一凹陷部；一弹性体，所述弹性体配置在所述组接孔内且套装在所述第一杆部上；及一接触体，所述接触体配置在所述凹陷部内。
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