[实用新型]光探测器有效避光的样品测试装置有效
| 申请号： | 200920110653.X | 申请日： | 2009-08-06 |
| 公开（公告）号： | CN201464356U | 公开（公告）日： | 2010-05-12 |
| 发明（设计）人： | 谭永红;申玲 | 申请（专利权）人： | 北京滨松光子技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/01 | 分类号： | G01N21/01 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100070 北京市丰*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种样品测试装置，包括探头筒、样品测试抽屉、样品室、抽屉头、测试窗口和光探测器，以样品室的下边缘为参考线，在样品室和样品测试抽屉尾部之间的样品测试抽屉下边有一凸起台阶结构，在测试窗口和抽屉头之间的探头筒上边有一凹陷台阶结构。本实用新型结构简单、加工方便，当样品测试抽屉拉出到极限位置时，凸起台阶结构和凹陷台阶结构能紧密扣合，有效阻挡探头筒外的自然光进入到探头筒内，严格避免杂散的自然光照射到光探测器上。本实用新型适用于对测试条件要求为单管、防漏光的测试系统。 | ||
| 搜索关键词： | 探测器 有效 避光 样品 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种样品测试装置，包括探头筒、样品测试抽屉、样品室、抽屉头、测试窗口和光探测器，其特征在于：以所述样品室的下边缘为参考线，在所述样品室和所述样品测试抽屉尾部之间的所述样品测试抽屉下边有一凸起台阶结构，在所述测试窗口和所述抽屉头之间的所述探头筒上边有一凹陷台阶结构。
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