[实用新型]电子设备中硅胶触点可靠性的测试系统有效
| 申请号： | 200920181216.7 | 申请日： | 2009-11-06 |
| 公开（公告）号： | CN201532443U | 公开（公告）日： | 2010-07-21 |
| 发明（设计）人： | 李登希;苏龙;念恩 | 申请（专利权）人： | 福建联迪商用设备有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/327 | 分类号： | G01R31/327 |
| 代理公司： | 福州市鼓楼区京华专利事务所(普通合伙) 35212 | 代理人： | 翁素华 |
| 地址： | 350000 福建省福*** | 国省代码： | 福建;35 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种电子设备中硅胶触点可靠性的测试系统，包括显示单元、采样系统、可调节厚度的电路组件；所述显示单元与所述可调节厚度的电路组件均连接到所述采样系统；所述采样系统包括CPU及与CPU相连接的采样处理单元，该采样处理单元包括与硅胶触点相接触的短路开关等效电阻、已知的参考电阻、供电电源、采样电源；所述等效电阻电连接供电电源；所述参考电阻接地；所述采样电源连接到等效电阻与参考电阻之间。该测试系统中可调节厚度的电路组件装入被测产品的机壳中，调节“可调节厚度的电路组件”使得厚度在一定的范围之间变化，测量每个变化值时侯的短路开关的接触电阻，完成对每个短路开关测试的功能。 | ||
| 搜索关键词： | 电子设备 硅胶 触点 可靠性 测试 系统 | ||
【主权项】：
电子设备中硅胶触点可靠性的测试系统，其特征在于：包括显示单元、采样系统、可调节厚度的电路组件；所述显示单元与所述可调节厚度的电路组件均连接到所述采样系统；所述采样系统包括CPU及与CPU相连接的采样处理单元，该采样处理单元包括与硅胶触点相接触的短路开关等效电阻R1、已知的参考电阻Rf、供电电源Vcc、采样电源V0；所述等效电阻R1电连接供电电源Vcc；所述参考电阻Rf接地；所述采样电源V0连接到等效电阻R1与参考电阻Rf之间。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于福建联迪商用设备有限公司，未经福建联迪商用设备有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200920181216.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
