[实用新型]抗振动态干涉测量仪无效

专利信息
申请号: 200920207337.4 申请日: 2009-11-26
公开(公告)号: CN201548201U 公开(公告)日: 2010-08-11
发明(设计)人: 何国田;曾智;马燕;伍瑜;曾毅 申请(专利权)人: 重庆师范大学
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00;G01B11/24;G01B9/02;G01B9/023
代理公司: 重庆华科专利事务所 50123 代理人: 康海燕
地址: 400047 *** 国省代码: 重庆;85
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摘要: 实用新型涉及一种抗振动态干涉测量仪,其由干涉光学系统、光电探测器与滤波鉴相系统构成,对被检测物体进行光学干涉测量。其干涉光学系统包括光路及移相装置;滤波鉴相系统包括同步移相控制电路与信号处理电路。本实用新型提供的测量仪可在恶劣环境下进行在线测量,只需一幅干涉图就能得出测量结果,不降低CCD的分辨率,对测量环境没有特别要求,具有抗干扰能力强、测量精度高、性噪比高、分辨率高、测量时间短等特点。
搜索关键词: 振动 干涉 测量仪
【主权项】:
一种抗振动态干涉测量仪,其包括干涉光学系统、光电探测器与滤波鉴相系统;所述干涉光学系统包括光路及移相装置;滤波鉴相系统包括同步移相控制电路与信号处理电路;其特征在于:其中所述光学系统包括光源(1)、分束器(2)、准直扩束镜(3)、参考镜(4)、被测物体(6)、光阑(7)、透镜(8),所述光源(1)、分束器(2)、准直扩束镜(3)、参考镜(4)、被测物体(6)、光阑(7)、透镜(8)和光电探测器(9)依次置于光路中,在参考镜(4)背面固定移相装置(5)所述光源(1)发出的光依次经过分束器(2)、准直扩束镜(3)、参考镜(4)、移相装置(5)后投射到被测物体(6)表面上后,其反射光透过参考镜(4)与参考镜前表面的反射光相遇发生干涉,干涉信号经准直扩束镜(3)、分束器(2)、参考镜(4)、透镜(8)投射到光电探测器(9)的光敏面上将其转换成电信号;所述光电探测器(9)连接信号处理电路,将电信号输入信号处理电路滤除其正弦调制信号,获得被测量物体的表面形貌;所述同步移相控制电路由信号源(1001)、分频器(1002)、脉冲发生器(1005)、正弦信号源(1003)、合成器(1004)、直流源(1006)、电压放大器(11)构成;信号源(1001)连接分频器(1002),经N分频后输出二路,一路连接脉冲发生器(1005),形成窄脉冲,再与光电探测器(9)相连,控制光电探测器的曝光时间;另一路连接正弦信号源(1003),控制正弦信号源产生的正弦信号,正弦信号源(1003)与直流源(1006)连接合成器,使正弦信号与直流源的直流在合成器(1004)中合成后,再连接电压放大器(11),电压放大器(11)最后连接移相装置(5),放大驱动移相装置作移相操作,达到正弦移相目的;所述信号处理电路完成放大、乘法、滤波运算。
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