[实用新型]一种X荧光分析全自动熔样机用试样座有效

专利信息
申请号: 200920223717.7 申请日: 2009-09-24
公开(公告)号: CN201607359U 公开(公告)日: 2010-10-13
发明(设计)人: 余鹏飞;李寿平;赵亮;杨涛;丁强 申请(专利权)人: 洛阳特耐实验设备有限公司
主分类号: G01N1/44 分类号: G01N1/44;G01N23/223
代理公司: 洛阳明律专利代理事务所 41118 代理人: 卢洪方
地址: 471003 河南省*** 国省代码: 河南;41
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摘要: 实用新型涉及一种X荧光分析全自动熔样机炉腔内支撑固定坩埚的部件,具体涉及一种X荧光分析全自动熔样机用试样座,其在试样座2的壁上具有多个用以透热的透热孔并使透热孔3与试样座放置坩埚的凹槽4相连通。本实用新型在试样座壁上具有的用于透热的孔可保证坩埚内的试样受热均匀,提高了熔融质量,同时试样座下端设置有支撑棒,使试样座的支撑和升降更平稳。
搜索关键词: 一种 荧光 分析 全自动 样机 试样
【主权项】:
一种X荧光分析全自动熔样机用试样座,其特征在于:在试样座(2)的壁上具有多个用以透热的透热孔(3)并使透热孔与试样座放置坩埚的凹槽(4)相连通。
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