[发明专利]完全超耐性、非常高扫描压缩扫描测试系统及技术有效
| 申请号： | 200980000264.4 | 申请日： | 2009-09-01 |
| 公开（公告）号： | CN101821641A | 公开（公告）日： | 2010-09-01 |
| 发明（设计）人： | 彼得·沃尔;约翰·A·威库考斯基;弗瑞德里克·J·纽费克斯 | 申请（专利权）人： | 新诺普系统公司 |
| 主分类号： | G01R31/3183 | 分类号： | G01R31/3183;G01R31/304 |
| 代理公司： | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人： | 栗若木;颜涛 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 扫描测试以及扫描压缩是实现成本降低以及运送品质的关键。在更加复杂的设计中，新的瑕疵类型需要增加的压缩。然而，增加的未知(X)值密度减低了有效率的压缩。一扫描压缩方法可达到对于任何未知值的任何密度的非常高压缩以及完全涵盖率。所描述的技术可完全地并入所述的测试用设计(DFT)以及自动化测试型样产生(ATPG)流程中。比起其他方法，在工业设计上来自使用这些技术的结果展现了一致且可预测的优势。 | ||
| 搜索关键词： | 完全 耐性 非常 扫描 压缩 测试 系统 技术 | ||
【主权项】：
一种用于测试一设计的扫瞄测试系统，所述的设计于一集成电路(IC)中实施，所述的设计包含多个扫瞄链，所述的系统包含：一第一伪随机型样产生器(PRPG)处理链，用以接收一第一种子，以产生用于鉴定所述的设计的故障的型样，所述的型样应用于所述的多个扫瞄链；一第二PRPG处理链，用以接收一第二种子，以产生X-耐性(XTOL)控制位元，所述的XTOL控制位元决定所述的扫瞄链的一可观察性层级；以及一卸载区块，用以接收来自所述的多个扫瞄链的扫瞄输出以及所述的XTOL控制位元、提供一每位移的X-控制、以及产生测试输出以用于分析所述的设计。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于新诺普系统公司，未经新诺普系统公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200980000264.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
