[发明专利]光频域反射测定方式的物理量测量装置及使用其的温度和应变的测量方法

摘要

本发明的光频域反射测定方式的物理量测量装置具备：一端与可调谐激光器连接、另一端与保偏耦合器连接的第一保偏光纤；一端与上述保偏耦合器连接、另一端为参照用反射端的第二保偏光纤；在纤芯中形成由光纤布拉格光栅构成的传感器、一端与上述保偏耦合器连接的第三保偏光纤；一端与上述保偏耦合器连接的第四保偏光纤；向上述第二保偏光纤的正交的2个偏振轴以及上述第三保偏光纤的正交的2个偏振轴双方射入测定光的入射部，上述入射部配置于上述第一保偏光纤中或配置于上述第二保偏光纤和上述第三保偏光纤双方中。

主权项

1.一种光频域反射测定方式的物理量测量装置，其特征在于，具备：射出测定光的可调谐激光器；一端与该可调谐激光器连接的第一保偏光纤；与该第一保偏光纤的另一端连接的保偏耦合器；一端与该保偏耦合器连接、另一端为参照用反射端的第二保偏光纤；一端与所述保偏耦合器连接的第三保偏光纤；形成于该第三保偏光纤的纤芯上的由光纤布拉格光栅构成的传感器；一端与所述保偏耦合器连接的第四保偏光纤；发光二极管，其经由该第四保偏光纤与所述保偏耦合器连接，检测来自所述传感器的布拉格反射光和来自所述参照用反射端的参照光；控制部，其基于由该发光二极管检测出的所述布拉格反射光和所述参照光的合波光强度变化，来检测这些布拉格反射光及参照光间的干涉光的强度调制；入射部α，其向所述第二保偏光纤的正交的2个偏振轴及所述第三保偏光纤的正交的2个偏振轴双方，射入所述测定光，所述入射部α配置于所述第一保偏光纤中或配置于所述第二保偏光纤和所述第三保偏光纤双方中。