[发明专利]生长Ⅲ族氮化物晶体的方法无效

专利信息
申请号: 200980102461.7 申请日: 2009-01-08
公开(公告)号: CN101910477A 公开(公告)日: 2010-12-08
发明(设计)人: 佐藤史隆;中畑成二 申请(专利权)人: 住友电气工业株式会社
主分类号: C30B29/38 分类号: C30B29/38;C23C16/02;C23C16/34;C30B25/18;H01L21/205
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 陈海涛;樊卫民
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明公开了用于生长III族氮化物晶体的方法,其包括如下步骤:准备衬底(10),所述衬底包括构成其一个主面(10m)的III族氮化物晶种(10a);通过气相腐蚀在所述衬底(10)的所述主面(10m)上形成多个小平面(10ms、10mt、10mu);以及在其上形成有所述小平面(10ms、10mt、10mu)的所述主面(10m)上生长III族氮化物晶体(20)。以此方式,能够容易且有效地得到具有低位错密度的III族氮化物晶体(20)。
搜索关键词: 生长 氮化物 晶体 方法
【主权项】:
一种生长III族氮化物晶体的方法,所述方法包括如下步骤:准备衬底(10),所述衬底包含构成其一个主面(10m)的III族氮化物晶种(10a);通过气相腐蚀在所述衬底(10)的所述主面(10m)上形成多个小平面(10ms、10mt、10mu);以及在其上形成有所述小平面(10ms、10mt、10mu)的所述主面(10m)上生长III族氮化物晶体(20)。
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