[发明专利]构造和布置以产生辐射的装置、光刻设备以及器件制造方法无效

专利信息
申请号: 200980106786.2 申请日: 2009-02-23
公开(公告)号: CN101960926A 公开(公告)日: 2011-01-26
发明(设计)人: M·M·J·W·范赫彭;W·A·索尔 申请(专利权)人: ASML荷兰有限公司
主分类号: H05G2/00 分类号: H05G2/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 王波波
地址: 荷兰维*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要: 一种装置被构造和被布置成使用通过气体介质的放电来产生辐射。所述装置包括第一电极和第二电极(12a、12b);和液体供给装置,其被布置成提供液体至所述装置中的位置上。所述装置被布置成电供给有电压,且将电压至少部分地供给至第一电极和第二电极,用于允许在由电压产生的电场中产生放电。放电产生辐射等离子体。所述装置还包括防护装置,其布置在放电位置(13)和连接至第一电极和/或第二电极的导电部件(11a)之间。
搜索关键词: 构造 布置 产生 辐射 装置 光刻 设备 以及 器件 制造 方法
【主权项】:
一种被构造和被布置以使用通过气体介质的放电来产生辐射的装置,所述装置包括:第一电极和第二电极;液体供给装置,所述液体供给装置被布置成提供液体至所述装置中的位置;所述装置被布置成电供给有电压,且将所述电压至少部分地供给至所述第一电极和所述第二电极,以便允许在由所述电压产生的电场中产生所述放电,所述放电产生辐射等离子体;以及防护装置,所述防护装置被布置在所述放电位置和被连接至所述第一电极和/或所述第二电极的导电部件之间。
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