[发明专利]X射线计算机断层成像装置和采用X射线计算机断层成像检测对象的方法有效
| 申请号： | 200980106833.3 | 申请日： | 2009-02-25 |
| 公开（公告）号： | CN101960297A | 公开（公告）日： | 2011-01-26 |
| 发明（设计）人： | T·富赫斯;N·尤曼 | 申请（专利权）人： | 弗朗霍夫应用科学研究促进协会 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04 |
| 代理公司： | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人： | 杨晓光;张静娟 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 在X射线计算机断层成像装置(1)和采用X射线计算机断层成像检测对象(2)的方法中，为改善图像质量，通过第一强度测量装置(13)测量X射线源(3)和对象(2)之间的X射线辐射(6)的第一强度，通过第二强度测量装置(15)测量在对象(2)和X射线检测器(4)之间位于对象(2)的投影区域(10)之外的X射线辐射(6)的第二强度。可通过所测量强度计算散射辐射校正因子以减小散射辐射。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 计算机 断层 成像 装置 采用 检测 对象 方法 | ||
【主权项】：
一种用于通过X射线计算机断层成像检测对象的X射线计算机断层成像装置，包括‑X射线源(3)，用于产生X射线辐射(6)，‑X射线检测器(4)，用于检测X射线辐射(6)，‑对象载体(5)，用于将待检测对象(2)设置在所述X射线源(3)和所述X射线检测器(4)之间，以及‑评估单元(18)，用于评估所检测的X射线辐射(6)，其特征在于‑第一强度测量装置(13)，其用于测量所述X射线辐射(6)的第一强度(I0)，并被设置在所述X射线源(3)和所述对象载体(5)之间，‑第二强度测量装置(15)，其用于测量所述X射线辐射(6)的第二强度(I1)，并在所述对象载体(5)和所述X射线检测器(4)之间被设置所述对象(2)的投影区域(10)之外，‑所述强度测量装置(13，15)连至所述评估单元(18)以传送所测量的强度(I0，I1)，以及‑所述评估单元(18)被配置为使得根据所测量强度(I0，I1)能够计算至少一个散射辐射校正因子(F)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于弗朗霍夫应用科学研究促进协会，未经弗朗霍夫应用科学研究促进协会许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200980106833.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：显示装置
- 下一篇：含有重金属类的污染水的处理剂及处理方法
