[发明专利]光分析计和分析计用波长稳定化激光装置有效
申请号: | 200980109944.X | 申请日: | 2009-03-27 |
公开(公告)号: | CN102066907A | 公开(公告)日: | 2011-05-18 |
发明(设计)人: | 右近寿一郎;井户琢也;三村享 | 申请(专利权)人: | 株式会社堀场制作所 |
主分类号: | G01N21/27 | 分类号: | G01N21/27;G01N21/39;H01S5/022 |
代理公司: | 上海市华诚律师事务所 31210 | 代理人: | 徐申民 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种光分析计,其能够一并促进测量精度的提高、降低成本、小型化、结构灵活性的提高、抵抗干扰能力的增强等。光分析计包括:激光源(2);从激光源(2)输出的光中选择和所述分析对象物的吸收波长实质相等的波长的光并导出的波长选择元件(3);检测所述波长选择元件导出的光的强度的光检测单元(5);驱动电流控制单元(6),其使得所述激光源(2)的驱动电流在用于使该激光源(2)输出所述吸收波长的光的规定电流值附近增减,并将其设定为光检测单元(5)的光强度检测值为峰值时的电流值,所述激光源(2)、所述波长选择元件(3)和光检测单元(5)都搭载在能够调整为一定温度的单一基板(11)上。 | ||
搜索关键词: | 分析 波长 稳定 激光 装置 | ||
【主权项】:
一种分析计用激光装置,其特征在于,包括:输出分析对象物的吸收波长附近的光的激光源;波长选择元件,该波长选择元件接收所述激光源输出的光的一部分,从其波长成分中选择和所述分析对象物的吸收波长实质相等的波长的光并导出;检测所述波长选择元件导出的光的强度的光检测单元;驱动电流控制单元,其使得所述激光源的驱动电流在为使所述激光源输出所述吸收波长的光用的规定电流值附近增减,并将所述激光源的驱动电流设定为所述光检测单元的光强度检测值为峰值时的电流值;以及;搭载所述激光源、所述波长选择元件和光检测单元的,能够调整到一定温度的单一基板。
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