[发明专利]样品支持物及其使用方法有效
| 申请号： | 200980111637.5 | 申请日： | 2009-03-31 |
| 公开（公告）号： | CN102026723A | 公开（公告）日： | 2011-04-20 |
| 发明（设计）人： | 克劳斯·哈伯施特罗;康拉德·福尔施蒂希 | 申请（专利权）人： | 凯杰博登湖有限公司 |
| 主分类号： | B01L3/00 | 分类号： | B01L3/00;G01N21/03;G01N21/27;G01N21/64;G01N35/10 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人： | 张颖;樊卫民 |
| 地址： | 德国施*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明提供了卡片状基材或板的形式，优选用于分析读数装置的一种样品支持物例如显微镜载片。样品支持物包含至少一个孔、优选多个孔，用于接受待分析样品。该至少一个孔完全贯穿基材，其尺寸使得利用样品的表面张力对抗重力将样品保持在至少一个孔中。任选地，基材包含第一个上部基材和第二个下部基材，它们一起封埋了多孔膜。作为另一种选择，样品支持物包含与第一个上部基材的顶面相连的第一个盖子和/或与第二个下部基材的底面相连的第二个盖子。此外，提供了在分析读数装置中使用这种样品支持物的方法，包括下列步骤：用样品和试剂混合物填充样品支持物的至少一个孔；将样品支持物插入到分析读数装置中；以及使用分析读数装置分析样品支持物的至少一个孔中的样品和试剂混合物。 | ||
| 搜索关键词： | 样品 支持 及其 使用方法 | ||
【主权项】：
用于分析，例如光学或电化学读数装置(50)中的样品支持物(10，20，30)，所述样品支持物(10，20，30)包括：具有至少一个孔(15，25，35)的用于接受待分析的样品的基材，其中至少一个孔(15，25，35)完全贯穿基材，其尺寸使得利用样品的表面张力将样品保持在至少一个孔(15，25，35)中。
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