[发明专利]电压门控的金属增强荧光、化学发光或生物发光方法及系统无效
申请号: | 200980113902.3 | 申请日: | 2009-03-01 |
公开(公告)号: | CN102016553A | 公开(公告)日: | 2011-04-13 |
发明(设计)人: | 克里斯·D·格迪斯 | 申请(专利权)人: | 马里兰大学;巴尔的摩县 |
主分类号: | G01N21/76 | 分类号: | G01N21/76;G01N21/64;G01N27/26 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 刘慧;杨青 |
地址: | 美国马*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 在本发明中,第一次证明了电流对表面等离子体激元放大荧光信号的能力的影响。跨过低电阻银岛薄膜(SiF)施加的直流电扰乱了紧邻荧光团的荧光增强。对于给定的施加电流来说,“恰好连续”的低电阻薄膜中的表面等离子体激元很少可用于荧光团偶极子耦合,因此随着所施加电流的变化对增强的荧光进行了门控。 | ||
搜索关键词: | 电压 门控 金属 增强 荧光 化学 发光 生物 方法 系统 | ||
【主权项】:
一种用于分析中的装置系统,所述系统包含:a)基材上的导电金属表面,其中所述导电金属表面是沉积在所述基材上的恰好连续的薄膜并表现出低电阻,并且其中所述基材包括玻璃、石英或聚合材料;b)位于导电金属表面上或其附近的分子,其中所述分子能够在激发时发射电磁能量;c)用于激发所述分子并引起电磁能量发射的电磁能量源;d)与所述导电金属表面相连、具有打开和关闭能力的直流电源;以及e)用于测量发射电磁能量的检测器和/或用于测量通过所述导电金属表面的直流电的检测器。
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