[发明专利]用于测定辐射功率的方法、辐射功率的测定用耦合器以及用于测定辐射功率的装置无效

专利信息
申请号: 200980116649.7 申请日: 2009-05-08
公开(公告)号: CN102016608A 公开(公告)日: 2011-04-13
发明(设计)人: 手代木扶;桧谷绫;河村尚志;佐久间彻 申请(专利权)人: 安立股份有限公司
主分类号: G01R29/08 分类号: G01R29/08
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 胡金珑
地址: 日本神*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 使被测物(1)的电波的辐射中心与在将椭圆以通过其两个焦点的轴线为中心旋转而得到的椭圆球状中由金属的壁面(11)所包围的封闭空间(12)的一个焦点(F1)的附近位置一致,使从被测物(1)辐射的电波在壁面反射而集中在配置于另一个焦点(F2)的位置的接收天线(15),从而根据接收天线(15)的输出信号而测定被测物(1)的辐射功率的测定方法中,使被测物(1)和接收天线(15)中的至少一个沿着通过两个焦点的轴线移动,将接收天线(15)的输出信号功率设为最大,并将其作为第1测定值来存储,使代替被测物(1)而设置的基准天线(160)和接收天线(15)与上述同样地移动,从而利用在接收天线(15)的输出信号功率成为最大时得到的测定值和校正数据计算被测物(1)的总辐射功率。
搜索关键词: 用于 测定 辐射 功率 方法 耦合器 以及 装置
【主权项】:
一种辐射功率测定方法,其包括:配置可辐射电波的被测物(1)的电波的辐射中心,使其与将椭圆以通过其两个焦点(F1、F2)的轴线为中心旋转而得到的椭圆球状的金属的壁面(11)所包围的封闭空间(12)的一个焦点(F1)的附近大致一致的步骤;以及将从该被测物辐射的电波在所述壁面反射而通过配置在另一个焦点(F2)的附近的接收天线(15)接收,从而根据该接收天线的输出信号在该接收天线的测定端测定被测物的总辐射功率的步骤,其特征在于,使所述被测物和所述接收天线中的至少一个沿着通过所述2个焦点的轴线移动,从而基于所述接收天线的输出信号功率成为最大的测定值,计算所述被测物的总辐射功率。
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