[发明专利]自动分析装置有效
| 申请号： | 200980118245.1 | 申请日： | 2009-04-21 |
| 公开（公告）号： | CN102037363A | 公开（公告）日： | 2011-04-27 |
| 发明（设计）人： | 山口卓也;松原茂树 | 申请（专利权）人： | 株式会社日立高新技术 |
| 主分类号： | G01N35/00 | 分类号： | G01N35/00;G01N35/02 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 张敬强 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明涉及自动分析装置。本发明的目的在于提供一种在存储装置损坏时也能在短时间内重新使用的自动分析装置。在分析装置处理部(33)存储有包含利用试剂的精度管理试样的测定结果和测定日期时间及测定的装置信息的精度管理信息，以及包含用试剂的校准结果和该校准的测定日期时间及测定的装置信息的校准信息的至少一种。试剂管理部(32)从设置于收放在容纳试剂的试剂收放部(7)的试剂容器(8)上的试剂容器ID标签读出信息，并将信息写入该试剂容器ID标签上。分析装置处理部(33)通过试剂管理部(32)对试剂容器ID标签写入精度管理信息或校准信息。 | ||
| 搜索关键词： | 自动 分析 装置 | ||
【主权项】：
一种自动分析装置，具备存储精度管理信息以及校准信息的至少一种的分析装置处理部，上述精度管理信息包含利用试剂进行的精度管理试样的测定结果和测定日期时间及进行测定的装置信息，上述校准信息包含利用试剂进行的校准结果和该校准的测定日期时间及进行测定的装置信息的校准信息，该自动分析装置的特征在于，具备从设置于收放在容纳试剂的试剂收放部的试剂容器上的试剂容器ID标签读出信息，并将信息写入该试剂容器ID标签的试剂管理部，上述分析装置处理部通过上述试剂管理部对上述试剂容器ID标签写入上述精度管理信息或上述校准信息。
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