[发明专利]通过原子层沉积形成含钌的膜的方法无效

专利信息
申请号: 200980120100.5 申请日: 2009-05-29
公开(公告)号: CN102084026A 公开(公告)日: 2011-06-01
发明(设计)人: R·坎乔里亚;R·奥德德拉;J·安西斯;N·博格 申请(专利权)人: 西格玛-奥吉奇公司
主分类号: C23C16/16 分类号: C23C16/16;C23C16/455;C07F15/00
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 李帆
地址: 美国密*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 提供了通过原子层沉积形成含钌的膜的方法。该方法包含将至少一种前体运送到基材,该至少一种前体对应于式I:(L)Ru(CO)3其中:L选自线型或支链的C2-C6烯基以及线型或支链的C1-6烷基;并且其中L任选地被一种或多种取代基取代,所述取代基独立地选自C2-C6烯基,C1-6烷基,烷氧基和NR1R2;其中R1和R2独立地是烷基或氢。
搜索关键词: 通过 原子 沉积 形成 方法
【主权项】:
通过原子层沉积形成含钌的膜的方法,该方法包含将至少一种前体运送到基材,至少一种前体在结构上对应于式I:(L)Ru(CO)3(式I)其中:L选自线型或支链的C2‑C6烯基以及线型或支链的C1‑6烷基;并且其中L任选地被一种或多种取代基取代,所述取代基独立地选自C2‑C6烯基、C1‑6烷基、烷氧基和NR1R2;其中R1和R2独立地是烷基或氢。
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