[发明专利]功率场效应晶体管有效

专利信息
申请号: 200980120875.2 申请日: 2009-05-11
公开(公告)号: CN102057490A 公开(公告)日: 2011-05-11
发明(设计)人: 黎建;欧阳金 申请(专利权)人: 威世硅尼克斯
主分类号: H01L29/80 分类号: H01L29/80;H01L29/808
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人: 陈源;张天舒
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 一种超短沟道混合功率场效应晶体管(FET)器件,其使电流从体硅流出而没有NPN寄生。该器件包括JFET部件、与JFET部件相邻布置的第一累积MOSFET、和在沟槽底端与JFET部件相邻布置的第二累积MOSFET,或者具有连接了源极的隔离栅极的MOSFET。
搜索关键词: 功率 场效应 晶体管
【主权项】:
一种混合功率场效应晶体管器件,包括:JFET部件;与所述JFET部件相邻布置的第一累积MOSFET;在沟槽底端与所述JFET部件相邻布置的第二累积MOSFET;并且其中所述JFET部件、所述第一累积MOSFET和所述第二累积MOSFET被构造来引发电流流经所述器件的体硅区。
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