[发明专利]辐射探测器和制造辐射探测器的方法无效
申请号: | 200980122524.5 | 申请日: | 2009-06-09 |
公开(公告)号: | CN102066976A | 公开(公告)日: | 2011-05-18 |
发明(设计)人: | G·福格特米尔;C·赫尔曼;K·J·恩格尔 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
主分类号: | G01T1/29 | 分类号: | G01T1/29 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 王英;刘炳胜 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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摘要: | 本发明涉及一种辐射探测器(10),包括像素(1)的阵列,其中,每个像素(1)包括用于将入射辐射转换成电信号的半导体材料(4)的转换层,并且其中,每个像素(10)被至少部分填充有阻隔材料的沟槽(3)围绕,所述阻隔材料吸收所述入射辐射生成的光子的至少一部分。本发明还涉及一种制造这种辐射探测器(10)的方法。 | ||
搜索关键词: | 辐射 探测器 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种辐射探测器(10),包括像素(1)的阵列,其中,每个像素(1)包括用于将入射辐射转换成电信号的半导体材料的转换层(4),并且其中,每个像素(10)被至少部分地填充有阻隔材料的沟槽(3)围绕,所述阻隔材料吸收由所述入射辐射生成的光子的至少一部分。
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