[发明专利]通过霍尔效应来测量位置的装置

摘要

本发明涉及一种通过霍尔效应来测量位置的装置，所述装置包括：箱盒（30）；霍尔效应传感器（1），其包括圆柱形磁体（10）和芯片（20），其中：所述芯片（20）固定到所述磁体（10）；所述磁体（10）沿垂直于其底部的轴线穿有贯穿孔（11），并且包括外周界（12）和内周界（13）；所述传感器（1）置于所述箱盒（30）中。根据本发明，所述装置的显著之处在于：所述内周界（13）相对于所述磁体（10）的机械约束是最大的；并且所述孔（11）的面积大于或等于所述芯片（20）的面积，以消除铁锉屑在所述芯片（20）对面的存在。

主权项

一种通过霍尔效应来测量位置的装置，所述装置包括：‑ 箱盒（30）；‑ 霍尔效应传感器（1），其包括圆柱形磁体（10）和芯片（20）；其中：‑ 所述芯片（20）固定到所述磁体（10）；‑ 所述磁体（10）沿垂直于其底部的轴线穿有贯穿孔（11），并且包括外周界（12）和内周界（13）；‑ 所述传感器（1）置于所述箱盒（30）中，所述装置的特征在于：‑ 所述内周界（13）相对于所述磁体（10）的机械约束是最大的；并且‑ 所述孔（11）的面积大于或等于所述芯片（12）的面积，以消除铁锉屑在所述芯片（20）对面的存在。