[发明专利]通过电阻式辐射热测量计阵列检测红外辐射的器件和方法有效
| 申请号： | 200980124625.6 | 申请日： | 2009-07-09 |
| 公开（公告）号： | CN102077066A | 公开（公告）日： | 2011-05-25 |
| 发明（设计）人： | 伯努瓦·杜邦;奥雷莉·图维格农;米歇尔·维兰;安托万内·迪普雷 | 申请（专利权）人： | ULIS股份公司 |
| 主分类号： | G01J5/20 | 分类号： | G01J5/20;G01J5/22;G01J5/24 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 李春晖;李德山 |
| 地址： | 法国弗雷*** | 国省代码： | 法国;FR |
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| 摘要： | 一种红外辐射检测器件，包括：衬底；用于检测所述辐射的至少一行部件的阵列(12)，每个所述部件都包括电阻式成像辐射热测量计(14)，所述阵列形成于衬底上面；用于读取阵列的辐射热测量计的读取装置(18)；用于测量在衬底的至少一个点处的温度的温度测量装置(22)；以及用于根据在衬底的至少一个点处测得的温度对基于每个辐射热测量计(14)形成的信号进行校正的校正装置(26)。所述校正装置(26)能够借助于所述信号的温度性能的预定物理模型对基于成像辐射热测量计(14)形成的信号进行校正。 | ||
| 搜索关键词： | 通过 电阻 辐射热 测量计 阵列 检测 红外 辐射 器件 方法 | ||
【主权项】：
一种红外辐射检测器件，包括：‑衬底；‑检测所述辐射的至少一行部件的阵列(12)，每个所述部件都包括电阻式成像辐射热测量计(14)，所述阵列形成于所述衬底上面；‑读取所述阵列的所述辐射热测量计的读取装置(18)；‑测量在所述衬底的至少一个点处的温度的温度测量装置(22)；‑以及根据在所述衬底的至少一个点处测得的温度对基于每个辐射热测量计(14)形成的信号进行校正的校正装置(26)，其特征在于，所述校正装置(26)能够借助于所述信号的温度性能的预定物理模型对基于所述成像辐射热测量计(14)形成的所述信号进行校正。
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