[发明专利]一种电子元件的接触单元的测位方法及装置有效
| 申请号： | 200980127848.8 | 申请日： | 2009-06-26 |
| 公开（公告）号： | CN102099653A | 公开（公告）日： | 2011-06-15 |
| 发明（设计）人： | 黄祯立;罗智杰;游振忠 | 申请（专利权）人： | 伟特机构有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00;G01C11/00;H05K13/00;G06T7/60;G01N21/00 |
| 代理公司： | 上海兆丰知识产权代理事务所(有限合伙) 31241 | 代理人： | 章蔚强 |
| 地址： | 马来西*** | 国省代码： | 马来西亚;MY |
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| 摘要： | 本发明涉及一种利用x，y和z三维的比例因子对电子元件上接触单元(2，3)进行测位的方法及装置。在校准过程中测定比例因子，同时该校准过程也确立系统中照相机与照相机之间的位置关系。校准操作先定位一号照相机(4)拍摄的图像点，通过该图像点对应得到二号和三号照相机(5，6)拍摄的图像点，由此获得第一图像点和第二图像点的位移，进而确定不同接触单元之间的高度差。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电子元件 接触 单元 测位 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种电子元件上接触单元(2，3)的测位方法，包括以下步骤：将所述接触单元(2，3)置于校准空间内；照明所述接触单元(2，3)；通过具有与校准平面平行延伸的第一像平面的一号照相机(4)，拍摄所述接触单元(2，3)的第一图像；通过二号照相机(5)拍摄所述接触单元的第二图像；处理所述第一图像来测定在每个所述接触单元(2，3)上每个所述接触单元(2，3)的第一图像点，其中，所述每个第一图像点是位于每个所述接触单元(2，3)上的点；处理所述第二图像来测定在每个所述接触单元(2，3)上每个所述接触单元(2，3)的第二图像点；其中，所述每个所述接触单元(2，3)上的第二图像点和第一图像点对应在每个所述接触单元(2，3)的同一点上；通过位置映射算法来测定第二图像上的第三图像点；以及测定在所述第二图像上所述第二图像点和第三图像点之间的位移，其中所述第三图像点由所述第一图像点正交投影于所述校准平面上得到。
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