[发明专利]用于共点成像的TOF质谱仪及其相关方法有效
| 申请号： | 200980127861.3 | 申请日： | 2009-07-16 |
| 公开（公告）号： | CN102099892A | 公开（公告）日： | 2011-06-15 |
| 发明（设计）人： | 安德鲁·鲍德勒 | 申请（专利权）人： | 奎托斯分析有限公司 |
| 主分类号： | H01J49/40 | 分类号： | H01J49/40;H01J49/42 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 余刚;吴孟秋 |
| 地址： | 英国曼*** | 国省代码： | 英国;GB |
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| 摘要： | 本发明涉及通过优化用于具有特定质荷比的离子的聚焦的电场来改善具有该特定质荷比的离子的聚焦。特别地，离子的共点聚焦可通过随着具有不同质荷比的离子穿过透镜而调整向离子光学透镜(50)施加的用于这些离子的电压来改善。在一个实施例中，数模转换器(32)和放大器(34)通过高电压电容(36)AC耦合至高电压DC供电单元(38)。数模转换器(32)生成低电压波形，该电压波形通过放大器(34)放大，然后添加到高电压供电单元(38)的输出，从而生成期望的电压波形，并随着离子穿过透镜而向离子光学透镜(50)施加。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 成像 tof 质谱仪 及其 相关 方法 | ||
【主权项】：
一种TOF质谱仪，具有：脉冲提取离子源，用于由样本生成离子脉冲；空间检测器，用于检测所述离子脉冲中的离子和所述离子撞击所述检测器的位置；以及离子光学透镜，位于所述离子源和所述空间检测器之间，用于提供电场，以随着所述离子脉冲穿过所述电场而使所述离子脉冲中的离子聚焦；其中，所述TOF质谱仪包括用于随着所述离子脉冲穿过所述电场而调整所述电场的电场调整装置。
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