[发明专利]在从多液态前体沉积的多孔低k薄膜和阻障层间提升黏着性的方法无效
申请号: | 200980128310.9 | 申请日: | 2009-06-30 |
公开(公告)号: | CN102099897A | 公开(公告)日: | 2011-06-15 |
发明(设计)人: | K·陈;任康树;A·T·迪莫斯 | 申请(专利权)人: | 应用材料股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/208 | 分类号: | H01L21/208;H01L21/31 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 陆嘉 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 在此提出处理基板的方法,其中第一有机硅前体、第二有机硅前体、成孔剂和氧源供应至处理腔室。第一有机硅前体包含整体而言碳含量较低的化合物。第二有机硅前体包含碳含量较高的化合物。成孔剂包含碳氢化合物。施加RF功率以沉积膜层至基板上,并调整各种反应物气流的流速以改变部分沉积膜的碳含量。在一实施例中,沉积膜的起始部分具低碳含量,因而类似氧化物,后继部分则具高碳含量,而类似碳氧化物。另一实施例的特征在于没有类似氧化物的起始部分。后续处理将于膜的高碳含量部分内产生细孔。 | ||
搜索关键词: | 液态 沉积 多孔 薄膜 阻障 提升 黏着 方法 | ||
【主权项】:
一种处理基板的方法,其至少包含:将该基板放到处理腔室内的支撑件上;以第一流速提供第一有机硅前体至该腔室;以第二流速提供第二有机硅前体至该腔室;以第三流速提供碳氢化合物混合物至该腔室;以第四流速提供氧化剂至该腔室;改变该第二有机硅前体的该第二流速至更高流速;改变该氧化剂的该流速至更高流速;以及在处理该基板时的至少一部分时间内,引导该碳氢化合物混合物改道绕过(bypass)该腔室。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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