[发明专利]在从多液态前体沉积的多孔低k薄膜和阻障层间提升黏着性的方法无效

专利信息
申请号: 200980128310.9 申请日: 2009-06-30
公开(公告)号: CN102099897A 公开(公告)日: 2011-06-15
发明(设计)人: K·陈;任康树;A·T·迪莫斯 申请(专利权)人: 应用材料股份有限公司
主分类号: H01L21/208 分类号: H01L21/208;H01L21/31
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 陆嘉
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 在此提出处理基板的方法,其中第一有机硅前体、第二有机硅前体、成孔剂和氧源供应至处理腔室。第一有机硅前体包含整体而言碳含量较低的化合物。第二有机硅前体包含碳含量较高的化合物。成孔剂包含碳氢化合物。施加RF功率以沉积膜层至基板上,并调整各种反应物气流的流速以改变部分沉积膜的碳含量。在一实施例中,沉积膜的起始部分具低碳含量,因而类似氧化物,后继部分则具高碳含量,而类似碳氧化物。另一实施例的特征在于没有类似氧化物的起始部分。后续处理将于膜的高碳含量部分内产生细孔。
搜索关键词: 液态 沉积 多孔 薄膜 阻障 提升 黏着 方法
【主权项】:
一种处理基板的方法,其至少包含:将该基板放到处理腔室内的支撑件上;以第一流速提供第一有机硅前体至该腔室;以第二流速提供第二有机硅前体至该腔室;以第三流速提供碳氢化合物混合物至该腔室;以第四流速提供氧化剂至该腔室;改变该第二有机硅前体的该第二流速至更高流速;改变该氧化剂的该流速至更高流速;以及在处理该基板时的至少一部分时间内,引导该碳氢化合物混合物改道绕过(bypass)该腔室。
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