[发明专利]用于使用吸收来成像的系统和方法有效
| 申请号： | 200980128849.4 | 申请日： | 2009-07-24 |
| 公开（公告）号： | CN102105780A | 公开（公告）日： | 2011-06-22 |
| 发明（设计）人： | D.P.哈特;F.弗里格里奥;D.M.马里尼 | 申请（专利权）人： | 麻省理工学院 |
| 主分类号： | G01N21/86 | 分类号： | G01N21/86 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 王岳;蒋骏 |
| 地址： | 美国麻*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 介质的衰减和其他光学属性被利用以测量传感器和目标表面之间的介质的厚度。此处公开的是各种介质，硬件的布置，以及被用来捕获这些厚度测量并获得各种成像背景中的目标表面的三维图像的处理技术。这包括用于为内部/凹表面以及外部/凸表面成像，以及为耳道、人齿列等等成像的这些技术的特定适配的一般技术。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 使用 吸收 成像 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种用于获得三维数据的方法，包括：在目标表面和传感器之间分布介质，所述目标表面在感兴趣区域上具有预定颜色，并且所述介质由在第一波长下的第一衰减系数以及在第二波长下的不同于所述第一衰减系数的第二衰减系数表征；照明感兴趣区域中的位置；利用所述传感器测量在所述位置方向上的第一波长的强度和第二波长的强度；以及基于所述第一波长的强度和第二波长的强度的函数来确定介质在所述位置方向上的厚度。
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