[发明专利]电化学电势感测无效
申请号: | 200980133123.X | 申请日: | 2009-08-24 |
公开(公告)号: | CN102132152A | 公开(公告)日: | 2011-07-20 |
发明(设计)人: | 马蒂亚斯·梅兹 | 申请(专利权)人: | NXP股份有限公司 |
主分类号: | G01N27/333 | 分类号: | G01N27/333;G01N27/414 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 王波波 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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摘要: | 本发明涉及一种用于确定分析物(100)中带电颗粒浓度的方法,所述方法包括以下步骤:i)确定表面电势对界面温度曲线(c1、c2、c3、c4)的至少两个测量点,其中将所述界面温度定义为测量电极和分析物(100)之间界面的温度,其中在所述界面处限定所述表面电势;以及i i)根据所述曲线(c1、c2、c3、c4)的至少两个测量点的位置来计算所述带电颗粒浓度。仍然是电势电化学测量方法的这种方法使用了测量电极的表面电势的温度依赖性。本发明还提出了一种电化学传感器和电化学传感器系统,用于确定分析物中的带电颗粒浓度。本发明还涉及可以用于确定带电颗粒浓度的各种传感器,即EGFET和EIS电容器。 | ||
搜索关键词: | 电化学 电势 | ||
【主权项】:
一种电化学传感器,用于确定分析物(100)中的带电颗粒浓度,所述传感器包括:‑测量电极,用于在工作时测量所述测量电极和其中浸没测量电极的分析物(100)之间界面处的表面电势;以及‑控制装置,用于测量所述界面的至少两个不同温度下的表面电势,以获得表面电势对界面温度的曲线(c1、c2、c3、c4)的至少两个测量点。
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