[发明专利]频率特性测定装置无效
| 申请号： | 200980137763.8 | 申请日： | 2009-09-14 |
| 公开（公告）号： | CN102165324A | 公开（公告）日： | 2011-08-24 |
| 发明（设计）人： | 青山悟;土井弥 | 申请（专利权）人： | 株式会社艾德温特斯特 |
| 主分类号： | G01R23/173 | 分类号： | G01R23/173 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 毛利群;王忠忠 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明的目的在于提供一种能简化用于测定的结构并且降低测定中所耗费的劳力和时间的频率特性测定装置。频谱分析器（10）具备：作为对两个输入信号的每一个分别测定频率特性的两组测定单元的混频器（110、210）、局部振荡器（112、212）、IF部（120、220）；产生指定这两组测定单元的每一个中的测定开始定时的触发信号的触发控制部（350）；以及当输入触发信号时，对两个局部振荡器（112、212）同时发送指示，并且以通过这两个局部振荡器（112、212）按相同的定时输出相同频率的局部振荡信号的方式，进行扫描控制的扫描控制部（300）。 | ||
| 搜索关键词： | 频率特性 测定 装置 | ||
【主权项】：
一种频率特性测定装置，具备：多个测定单元，对多个输入信号的每一个分别测定频率特性；触发控制单元，将指定所述多个测定单元的每一个中的测定开始定时的多个触发信号进行输出；以及扫描控制单元，与从所述触发控制单元输出的所述多个触发信号同步地控制所述多个测定单元的每一个中的频率扫描动作。
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