[发明专利]低压自校准CMOS峰值检测器有效

专利信息
申请号: 200980140886.7 申请日: 2009-10-07
公开(公告)号: CN102187575A 公开(公告)日: 2011-09-14
发明(设计)人: 杰恩-罗伯特·图瑞特 申请(专利权)人: NXP股份有限公司
主分类号: H03K5/1532 分类号: H03K5/1532;G01R19/04
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 王波波
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要: 发明涉及低压自校准峰值检测器(100)。使用两步校准处理,其补偿由相应的第一、第二和第三比较器(122、128、130)引入的偏移误差,峰值检测可以准确的进行,无论温度、处理或不匹配范围如何。它的输入带宽可以和单位增益的运算放大器的带宽一样高。在轨到轨配置中,它可以实现为全差分低压自校准CMOS峰值检测器(200),其能具有很高的转换增益(α)和很高的输入信号动态范围。
搜索关键词: 低压 校准 cmos 峰值 检测器
【主权项】:
一种电路装置(100),包含:‑具有第一输入端(+)和第二输入端(‑)的第一比较器(122),当所述第一和第二输入端(+、‑)短路时,所述第一比较器具有第一输入偏移电压(V′off1);‑具有第三输入端(+)和第四输入端(‑)的第二比较器(128),当所述第三和第四输入端(+、‑)短路时,所述第二比较器具有第二输入偏移电压(V′off2);‑具有第五输入端(+)和第六输入端(‑)的第三比较器(130),当所述第五和第六输入端(+、‑)短路时,所述第三比较器具有第三输入偏移电压(V′off3);其中,‑所述第三比较器(130)被配置在第一状态(I′),用于补偿所述第一和第二输入偏移电压(V′off1,V′off2)和使由所述第三输入偏移电压(V′off3)所产生的偏移误差最小;和‑所述第二比较器(128)被配置在第二状态(II′),用于基于第一状态(I′)补偿第一输入偏移电压(V′off1),所述第二状态(II′)跟随在所述第一状态(I′)之后;‑所述第一、第二和第三比较器(122、128、130)的每一个具有一起耦合到高阻抗节点(J′)的输出。
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