[发明专利]伪装检测系统，伪装检测方法以及伪装检测程序有效
| 申请号： | 200980142953.9 | 申请日： | 2009-10-28 |
| 公开（公告）号： | CN102197412A | 公开（公告）日： | 2011-09-21 |
| 发明（设计）人： | 铃木哲明 | 申请（专利权）人： | 日本电气株式会社 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T1/00 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 王波波 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种伪装检测系统，包括：成像单元(2)，通过从第一角度对检查对象(12)进行成像，来获得第一图像，并且通过从不同于第一角度的第二角度对检查对象进行成像，来获得第二图像；特征点坐标计算单元(101)，从第一图像检测第一特征点，获得对检测到的第一特征点的位置进行表示的第一特征点坐标，并且从第二图像检测第二特征点，获得对检测到的第二特征点的位置进行表示的第二特征点坐标；特征点关联单元(102)，将第一特征点与第二特征点相关联；特征变换单元(104)，通过执行第二特征点坐标从第二图像到第一图像的平面投影变换，来获得变换后坐标；以及相似性确定单元(105)，当变换后坐标与第一特征点坐标之间的差等于或小于预定值时，确定试图进行伪装。 | ||
| 搜索关键词： | 伪装 检测 系统 方法 以及 程序 | ||
【主权项】：
一种伪装检测系统，包括：成像单元，通过从第一角度对检查对象进行成像，来获得第一图像，并且通过从不同于第一角度的第二角度对检查对象进行成像，来获得第二图像；特征点坐标计算单元，从第一图像检测第一特征点，获得对检测到的第一特征点的位置进行表示的第一特征点坐标，并且从第二图像检测第二特征点，获得对检测到的第二特征点的位置进行表示的第二特征点坐标；特征点关联单元，将第一特征点与第二特征点相关联；特征变换单元，通过执行第二特征点坐标从第二图像到第一图像的平面投影变换，来获得变换后坐标；以及相似性确定单元，当变换后坐标与第一特征点坐标之间的差等于或小于预定值时，确定试图进行伪装。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于日本电气株式会社，未经日本电气株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200980142953.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
