[发明专利]用于制造发射辐射的薄膜器件的方法和发射辐射的薄膜器件有效

专利信息
申请号: 200980144647.9 申请日: 2009-10-19
公开(公告)号: CN102210032A 公开(公告)日: 2011-10-05
发明(设计)人: 汉斯-于尔根·卢高尔;克劳斯·施特罗伊贝尔;马丁·斯特拉斯伯格;赖纳·温迪施;卡尔·恩格尔 申请(专利权)人: 欧司朗光电半导体有限公司
主分类号: H01L33/22 分类号: H01L33/22
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 王萍;周涛
地址: 德国雷*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 在用于制造发射辐射的薄膜器件(1)的方法的至少一个实施形式中,该方法具有以下步骤:-提供衬底(2),-在衬底(2)上生长纳米棒(3),-在纳米棒(3)上外延生长具有至少一个有源层(5)的半导体层序列(4),-在半导体层序列(4)上施加支承体(6),以及-通过至少部分损坏纳米棒(3)将半导体层序列(4)和支承体(6)与衬底(2)分开。通过这种制造方法,可以减少半导体层序列(4)中由通过生长引起的机械应力和裂纹。
搜索关键词: 用于 制造 发射 辐射 薄膜 器件 方法
【主权项】:
一种用于制造发射辐射的薄膜器件(1)的方法,其具有以下步骤:‑提供衬底(2),‑在衬底(2)上生长纳米棒(3),‑在纳米棒(3)上外延生长具有至少一个有源层(5)的半导体层序列(4),‑在半导体层序列(4)上施加支承体(6),以及‑通过至少部分损坏纳米棒(3)将半导体层序列(4)和支承体(5)与衬底(2)分开。
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